场发射透射电子显微镜

　　设备型号：Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP

　　制造商名称：FEI COMPANY

　　仪器金额：6000000

　　仪器主要功能：成像系统用于对材料微观结构，如晶体尺寸、晶界、缺陷分布，纳米样品的形貌等的观察及记录;能谱系统用于材料元素成分及分布的半定量分析;HAADF探头使用，可以获得STEM图像，进行元素面分布、线分布等测试。